INNOVACIÓN > MICROINSPECCIÓN NO DESTRUCTIVA
Si necesita un nuevo sistema de metrología para la inspección 3D sin contacto de chips microfluídicos y otros microcomponentes, tenemos la solución que busca.
ASE Optics proporciona sistemas de inspección no destructiva bajo demanda que ofrecen al fabricante información más rápida sobre las desviaciones en el proceso de fabricación de microdispositivos. Esto les ayuda a ahorrar recursos y ser más eficientes: permite una intervención más rápida y, por tanto, una reducción de residuos al permitir la alteración del proceso antes de que los productos se desvíen de las especificaciones.
Implantando nuestros sistemas en la línea de producción, se recibe información en tiempo real sobre el proceso de fabricación, se detectan rápidamente las incidencias y se obtienen informes y datos valiosos para mejorar la producción futura, reduciendo los costes de fabricación y aumentando la proporción de producto conforme y apto para la venta y el uso.
Inspección óptica semiconductores
Sistemas de diagnóstico óptico
Microinspección no destructiva
Beneficios: lo que obtienes con FASTTEST
El sistema permite una preselección de las zonas de inspección de interés. Esto, junto con una tasa de adquisición de datos bien optimizada, permite la inspección de piezas a tasas que coinciden con las tasas de producción, lo que permite una inspección sistemática de toda la salida de la línea de producción en lugar de muestras seleccionadas al azar. Este exhaustivo control de calidad reduce el desperdicio y aumenta la calidad en sectores como la medicina de punto de atención donde se utilizan microfluídicos desechables.
El origen de estos sistemas: Proyecto FASTTEST.
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